ASTM F 1262-1989 数字集成电路瞬时辐射最低临界值的检测
作者:标准资料网
时间:2024-05-20 21:07:26
浏览:8658
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:TransientRadiationUpsetThresholdTestingofDigitalIntegratedCircuits
【原文标准名称】:数字集成电路瞬时辐射最低临界值的检测
【标准号】:ASTMF1262-1989
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:导则;测量技术;剂量测定;数字电路
【英文主题词】:dosimetry;guidelines;measuringtechniques;digitalcircuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:数字集成电路瞬时辐射最低临界值的检测
【标准号】:ASTMF1262-1989
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:导则;测量技术;剂量测定;数字电路
【英文主题词】:dosimetry;guidelines;measuringtechniques;digitalcircuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
下载地址:
点击此处下载